【沖刺四季度】航天二院201所中標(biāo)國家實驗室芯片可靠性研究項目
發(fā)布時間：2024-10-23
信息來源: 中國航天科工二院
近日，航天二院201所元器件可靠性技術(shù)研究中心成功中標(biāo)國家實驗室一芯片可靠性研究項目。本次中標(biāo)進(jìn)一步鞏固了201所在元器件可靠性領(lǐng)域的優(yōu)勢地位，實現(xiàn)了任務(wù)來源向更高層次的跨越，為后續(xù)深耕發(fā)展打下堅實基礎(chǔ)。
該項目將對集成射頻封裝芯片開展可靠性保證要求及驗證方法、試驗技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)制定等研究工作，為集成射頻封裝芯片可靠性工程提供支撐。（文/王長鑫）
